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Autor: Firma Instrument Systems

Spectral characterization of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays

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Posted on 12. Dezember 202212. Dezember 2022 by Firma Instrument Systems
At SPIE Photonics West 2023, Instrument Systems will be displaying fast, high-resolution spectroradiometers in combination with innovative camera systems for the measurement of VCSELs, microLEDs and A... Read More
VCSEL-Analysekamera von Instrument Systems gewinnt Photonik-Award

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Posted on 27. Oktober 202227. Oktober 2022 by Firma Instrument Systems
Instrument Systems präsentierte seine neue Infrarotkamera VTC 4000 Anfang 2022 auf der Photonics West. Eine Jury aus Experten der Photonik-Industrie zeichnete diese Kamera nun mit dem „Laser Focus ... Read More
LumiTop gewährleistet Qualität von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen

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Posted on 19. September 2022 by Firma Instrument Systems
Die intelligente Kombination aus instantaner spektralradiometrischer Referenzmessung und kamerabasierter Farb- und Helligkeitsmessung prädestiniert das LumiTop-System von Instrument Systems für die ... Read More
Neuer CIE-Report zur Spektralradiometrie

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Posted on 25. Juli 2022 by Firma Instrument Systems
Unter wissenschaftlicher Leitung von Instrument Systems hat das Technical Committee TC2-80 der CIE einen neuen Technischen Report zu spektralradiometrischen Messungen von optischen Strahlungsquellen e... Read More
Fernfeld-Analyse von Infrarotquellen

Fernfeld-Analyse von Infrarotquellen

Posted on 23. Mai 2022 by Firma Instrument Systems
Die Infrarotkamera VTC 2400 von Instrument Systems ist passgenau für die Fernfeldanalyse von IR-Emittern entwickelt und sowohl für den Einsatz in Labor als auch Produktion ausgelegt. Sie ist spezial... Read More
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