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Autor: Firma Instrument Systems

Vollständige optische Waferprüfung für μLEDs an einer Teststation

Vollständige optische Waferprüfung für μLEDs an einer Teststation

Posted on 9. Juli 20205. Mai 2022 by Firma Instrument Systems
Instrument Systems bietet für μLED-Wafertesting eine einzigartige kamerabasierte Messlösung an, die 2-dimensional, pixelgenau und innerhalb vorgegebener Taktzeiten optische Analysen erstellt. Die L... Read More
Blaulichtgefährdung vereinfacht bewerten

Blaulichtgefährdung vereinfacht bewerten

Posted on 20. Februar 20205. Mai 2022 by Firma Instrument Systems
Der neu entwickelte Technische Report IEC TR 62778 zur photobiologischen Sicherheit beschreibt praxisnahe Methoden für die Untersuchung der Blaulichtgefährdung von LED-Lichtquellen in der Allgemeinb... Read More
Präzise Strahlungsmessung im UV-Bereich

Präzise Strahlungsmessung im UV-Bereich

Posted on 20. Februar 20205. Mai 2022 by Firma Instrument Systems
Die UV-LED-Kalibriernormale der ACS-Serie von Instrument Systems sind extrem stabile und auf die Strahlungsleistung rückführbare UV-Quellen auf LED-Basis. Sie weisen extrem niedrige Messunsicherheit... Read More
Neues Spektralradiometer beschleunigt LED-Produktion

Neues Spektralradiometer beschleunigt LED-Produktion

Posted on 13. Januar 20205. Mai 2022 by Firma Instrument Systems
Produktlebenszyklen werden stetig kürzer. Die damit einhergehende Variantenvielfalt der Produkte stellt Produktionslinien vor neue Herausforderungen. Sie müssen komplexer, schneller und dennoch in d... Read More
Charakterisierung von Laserdioden, VCSELs sowie Displays für Time-of-flight und AR/VR-Anwendungen

Charakterisierung von Laserdioden, VCSELs sowie Displays für Time-of-flight und AR/VR-Anwendungen

Posted on 18. November 20195. Mai 2022 by Firma Instrument Systems
Als Teilnehmer am German Pavillon präsentiert Instrument Systems auf der Photonics West / USA seine Spektralradiometer der Premiumklasse sowie kombinierte Messlösungen ergänzt durch absolut kalibri... Read More
Testing times as a critical factor for efficient production throughput

Testing times as a critical factor for efficient production throughput

Posted on 22. Oktober 20195. Mai 2022 by Firma Instrument Systems
As a leading manufacturer of light measurement technology, Instrument Systems offers customized solutions along the entire value-added chain from the development stage to manufacture and quality contr... Read More
Prüfzeiten als kritische Größe für effizienten Produktionsdurchsatz

Prüfzeiten als kritische Größe für effizienten Produktionsdurchsatz

Posted on 22. Oktober 20195. Mai 2022 by Firma Instrument Systems
Instrument Systems bietet als führender Hersteller für Lichtmesstechnik kundenspezifische Lösungen entlang der gesamten Wertschöpfungskette von Entwicklung über Fertigung bis zur Qualitätskontro... Read More
Abstrahlcharakteristiken hochpräzise vermessen

Abstrahlcharakteristiken hochpräzise vermessen

Posted on 18. September 20195. Mai 2022 by Firma Instrument Systems
Auf der LpS 2019 in Bregenz präsentiert Instrument Systems vom 24. – 26. September 2019 Applikationen für hochpräzise Spektralradiometer. Am Stand A13 kommt an mehreren photometrischen und spektr... Read More
Qualitätsstandards für Automotive mit neuer Präzision umsetzen

Qualitätsstandards für Automotive mit neuer Präzision umsetzen

Posted on 18. September 20195. Mai 2022 by Firma Instrument Systems
Auf der ISAL in Darmstadt präsentiert Instrument Systems vom 23. bis 25. September 2019 die neuesten Entwicklungen bildgebender Kameras zur Kontrolle von OEM-Spezifikationen. Der Fokus liegt auf prä... Read More
Seminar "Licht- und Displaymesstechnik in Theorie und Praxis"

Seminar „Licht- und Displaymesstechnik in Theorie und Praxis“

Posted on 5. September 20195. Mai 2022 by Firma Instrument Systems
Als führender Hersteller für LED-, SSL- und Displaymesstechnik veranstaltet Instrument Systems zum fünften Mal in Folge das beliebte Seminar „Licht- und Displaymesstechnik in Theorie und Praxisâ€... Read More
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