Summenfrequenz-Spektroskopie (SFG) ermöglicht die detaillierte Untersuchung von Struktur, Ordnung und Orientierung von Monolayern auf molekularer Ebene sowie deren spektroskopische Eigenschaften an unterschiedlichen Oberflächen und Grenzflächen ohne nennenswerten Einfluss durch das Probenvolumen.

Dazu wird ein Pikosekundenpuls mit fester Wellenlänge im Sichtbaren (ωVIS) mit einem zweiten Puls mit durchstimmbarer Wellenlänge im Infraroten (ωIR) auf der zu untersuchenden Oberfläche überlagert um durch nichtlineare Anregung ein Signal zu erzeugen (ωSFG). Die Intensität des Signals ωSFG steigt, wenn die Anregung mit dem Schwingungsübergang eines Moleküls übereinstimmt. Nur Moleküle ohne Inversionssymmetrie können ein SFG-Signal erzeugen. Da an Grenzflächen keine Inversionssymmetrie vorhanden ist, die meisten Probenvolumina wie Wasser hingegen inversionssymmetrisch sind, kann mit diesem Verfahren die Struktur der Grenzfläche ohne Einfluss des Probenvolumens untersucht werden.

Eine detaillierte Beschreibung des Verfahrens, eines SFG-Messsystems sowie Ergebnissen aus Biochemie und Solarzellenforschung durch Autoren der Universität Vilnius, des Laserherstellers Ekspla und des deutschen Vertreters Topag Lasertechnik finden Sie in der neuen Ausgabe der PhotonicsViews.

Über die TOPAG Lasertechnik GmbH

TOPAG Lasertechnik GmbH bietet Produkte aus den Bereichen Laser, Laseroptik und optische Messtechnik an. Der Schwerpunkt liegt auf dem Vertrieb und Service gepulster Festkörperlaser für Anwendungen in Forschung und Industrie. Weitere Produkte umfassen Optomechanik, Spektrometer, Infrarotsichtgeräte, Kristalle und Ultrakurzpuls-Messtechnik. Das Unternehmen entwickelt und fertigt neuartige diffraktive Optiken zur Laserstrahlformung.

Seit der Gründung im Jahr 1993 liegt unsere Stärke in der individuellen Beratung und dem Entwickeln von kundenspezifisch angepassten Lösungen durch unser Team aus Physikern und Ingenieuren. Der Unternehmenserfolg basiert auf einer langfristigen, vertrauensvollen Zusammenarbeit mit unseren Kunden.

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