Autor: Firma Instrument Systems
Goniometrische Charakterisierung von Curved Displays
Auf der diesjährigen Display Week, die vom 21.-26. Mai 2023 im Los Angeles Convention Center stattfindet, launcht Instrument Systems sein neuestes Goniometer der DMS-Serie. Das DMS 904 ist auf die op... Read More
Umfirmierung von Kimsoptec in Instrument Systems Korea
Nach dem Erwerb der Kimsoptec Co. Ltd. durch Instrument Systems im August 2022 und der erfolgreichen Integration in den Konzern firmiert der koreanische Hersteller von Displaymesssystemen zum 1. April... Read More
ISO 17025 konforme Prüfungen vor Ort beim Kunden
Instrument Systems bietet seit Januar 2023 optional seine ISO 17025 konformen Prüfungen der Beleuchtungsstärke auch am Installationsort seiner großen Lichtmessanlagen der AMS und LGS Goniophotomete... Read More
Spektrale Charakterisierung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays
Instrument Systems zeigt auf der SPIE Photonics West 2023 schnelle und hochauflösende Spektralradiometer in Kombination mit innovativen Kamerasystemen zur Vermessung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-D... Read More
Spectral characterization of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays
At SPIE Photonics West 2023, Instrument Systems will be displaying fast, high-resolution spectroradiometers in combination with innovative camera systems for the measurement of VCSELs, microLEDs and A... Read More
VCSEL-Analysekamera von Instrument Systems gewinnt Photonik-Award
Instrument Systems präsentierte seine neue Infrarotkamera VTC 4000 Anfang 2022 auf der Photonics West. Eine Jury aus Experten der Photonik-Industrie zeichnete diese Kamera nun mit dem „Laser Focus ... Read More
LumiTop gewährleistet Qualität von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen
Die intelligente Kombination aus instantaner spektralradiometrischer Referenzmessung und kamerabasierter Farb- und Helligkeitsmessung prädestiniert das LumiTop-System von Instrument Systems für die ... Read More
Neuer CIE-Report zur Spektralradiometrie
Unter wissenschaftlicher Leitung von Instrument Systems hat das Technical Committee TC2-80 der CIE einen neuen Technischen Report zu spektralradiometrischen Messungen von optischen Strahlungsquellen e... Read More