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Autor: Firma Instrument Systems

Goniometrische Charakterisierung von Curved Displays

Goniometrische Charakterisierung von Curved Displays

Posted on 17. Mai 202319. Mai 2023 by Firma Instrument Systems
Auf der diesjährigen Display Week, die vom 21.-26. Mai 2023 im Los Angeles Convention Center stattfindet, launcht Instrument Systems sein neuestes Goniometer der DMS-Serie. Das DMS 904 ist auf die op... Read More
Umfirmierung von Kimsoptec in Instrument Systems Korea

Umfirmierung von Kimsoptec in Instrument Systems Korea

Posted on 3. April 20233. April 2023 by Firma Instrument Systems
Nach dem Erwerb der Kimsoptec Co. Ltd. durch Instrument Systems im August 2022 und der erfolgreichen Integration in den Konzern firmiert der koreanische Hersteller von Displaymesssystemen zum 1. April... Read More
ISO 17025 konforme Prüfungen vor Ort beim Kunden

ISO 17025 konforme Prüfungen vor Ort beim Kunden

Posted on 13. Februar 202314. Februar 2023 by Firma Instrument Systems
Instrument Systems bietet seit Januar 2023 optional seine ISO 17025 konformen Prüfungen der Beleuchtungsstärke auch am Installationsort seiner großen Lichtmessanlagen der AMS und LGS Goniophotomete... Read More
Spektrale Charakterisierung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays

Spektrale Charakterisierung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays

Posted on 12. Dezember 202212. Dezember 2022 by Firma Instrument Systems
Instrument Systems zeigt auf der SPIE Photonics West 2023 schnelle und hochauflösende Spektralradiometer in Kombination mit innovativen Kamerasystemen zur Vermessung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-D... Read More
Spectral characterization of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays

Spectral characterization of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays

Posted on 12. Dezember 202212. Dezember 2022 by Firma Instrument Systems
At SPIE Photonics West 2023, Instrument Systems will be displaying fast, high-resolution spectroradiometers in combination with innovative camera systems for the measurement of VCSELs, microLEDs and A... Read More
VCSEL-Analysekamera von Instrument Systems gewinnt Photonik-Award

VCSEL-Analysekamera von Instrument Systems gewinnt Photonik-Award

Posted on 27. Oktober 202227. Oktober 2022 by Firma Instrument Systems
Instrument Systems präsentierte seine neue Infrarotkamera VTC 4000 Anfang 2022 auf der Photonics West. Eine Jury aus Experten der Photonik-Industrie zeichnete diese Kamera nun mit dem „Laser Focus ... Read More
LumiTop gewährleistet Qualität von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen

LumiTop gewährleistet Qualität von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen

Posted on 19. September 2022 by Firma Instrument Systems
Die intelligente Kombination aus instantaner spektralradiometrischer Referenzmessung und kamerabasierter Farb- und Helligkeitsmessung prädestiniert das LumiTop-System von Instrument Systems für die ... Read More
Neuer CIE-Report zur Spektralradiometrie

Neuer CIE-Report zur Spektralradiometrie

Posted on 25. Juli 2022 by Firma Instrument Systems
Unter wissenschaftlicher Leitung von Instrument Systems hat das Technical Committee TC2-80 der CIE einen neuen Technischen Report zu spektralradiometrischen Messungen von optischen Strahlungsquellen e... Read More
Fernfeld-Analyse von Infrarotquellen

Fernfeld-Analyse von Infrarotquellen

Posted on 23. Mai 2022 by Firma Instrument Systems
Die Infrarotkamera VTC 2400 von Instrument Systems ist passgenau für die Fernfeldanalyse von IR-Emittern entwickelt und sowohl für den Einsatz in Labor als auch Produktion ausgelegt. Sie ist spezial... Read More
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