Lauterbach und JetBrains haben die TRACE32®-Debugging-Tools in CLion integriert, die plattformübergreifende IDE von JetBrains für C und C++. Mit der Integration können Embedded-Entwickler ihre Anw...Read More
Die TRACE32®-Entwicklungswerkzeuge von Lauterbach unterstützen jetzt Alibabas XuanTie-C950-RISC-V-Prozessor, die bislang leistungsstärkste RISC-V-Plattform. Als erste erreicht sie im SPECint-2006-B...Read More
Lauterbach, der führende Anbieter von Debugging-Lösungen für eingebettete Systeme, und MathWorks geben die vollständige Integration der Polyspace®-Produkte für Codetests und -verifikation von Ma...Read More
Nuclei System Technology, Anbieter von leistungsstarken, energieeffizienten und sicheren RISC‑V‑CPU‑Kernen, und Lauterbach GmbH, weltweit führender Hersteller von Entwicklungswerkzeugen für Em...Read More
Die TRACE32®-Entwicklungslösungen von Lauterbach unterstützen nun auch die CoolFlux-DSPs von NXP® Semiconductors für Audio-, Sensor- und softwaredefinierte Funk-Anwendungen und ermöglichen so An...Read More
Lauterbachs branchenführende Debugging- und Profiling-Toolsuite TRACE32® ist nun Teil des NXP CoreRide Z248 Zonal Reference Systems, der ersten vorvalidierten, designbereiten Zonal-Basis der Halblei...Read More
Lauterbach TRACE32®-Tool-Unterstützung beschleunigt die Entwicklung auf Prozessoren der AMD Ryzen™ AI Embedded P100-Serie Die TRACE32®-Entwicklungslösungen von Lauterbach unterstützen nun die P...Read More
Lauterbach, führender Anbieter von Debug- und Profiling-Lösungen für Embedded-Systeme, hat seine branchenweit breiteste Unterstützung für AUTOSAR-Betriebssysteme weiter ausgebaut: Ab sofort wird ...Read More
Unter dem Motto „Schaffung einer KI-gesteuerten und softwaredefinierten Welt“ präsentiert Lauterbach auf der diesjährigen embedded world Exhibition & Conference in Nürnberg seine neuesten T...Read More
Lauterbach, der weltweit führende Anbieter von Debug-Lösungen für Embedded-Systeme, präsentiert sein neues, überlegenes Debug-Tool PowerDebug E50 essential-line. Es baut auf dem Erfolg des weit v...Read More