Autor: Firma RoodMicrotec
RoodMicrotec nutzt die UFO Probe® Card-Technologie von Jenoptik für seine PIC-Wafer-Level-Tests
Final-Tests sind ein wichtiger Bestandteil der Supply Chain von elektronischen Bauteilen. Für integrierte Schaltkreise (ICs) sind diese fest etabliert – für integrierte photonische Schaltkreise (P... Read More