Flashing mit maximaler Geschwindigkeit

Der SMH Flashrunner ist seit langem ein zuverlässiger Bestandteil unserer Anwendungen für In-Circuit-Tests. Neueste Programmiertechnologie ermöglicht es, mit Flashrunner 2.0 in Kombination mit einem In-Circuit-Test bis zu 16 verschiedene Bauteile gleichzeitig zu programmieren. Dies macht es ideal für die Programmierung von Multi-PCB-Panels und komplexen Boards mit mehreren installierten Geräten. Eine benutzerfreundliche Bedienoberfläche ermöglicht es zudem, in kürzester Zeit ein produktionsreifes Programm zu erstellen.

Echter Paralleltest für Nutzentest

Auch Digitaltest unterstützt Nutzentest optimal. Durch paralleles Testen mit unserer Lambda edition können zwei oder mehr Baugruppen gleichzeitig getestet werden. So lassen sich die Taktzeiten optimieren und die Testzeit verkürzen. Ein In-Circuit- oder Funktionstest wird von zwei oder mehr unabhängigen Testköpfen ausgeführt, was die Prüfzeit um den entsprechenden Faktor reduziert. Dies gilt für einen Mehrfachnutzen ebenso wie für mehrere Einzelprüflinge.

Durch die Kombination der beiden Technologien, Lambda edition und Flashrunner 2.0, können auf Digitaltest-Testsystemen die Multi-Panel-Boards völlig unabhängig parallel getestet und programmiert werden. Das spart nicht nur Produktionszeit, sondern auch Warte-, Inspektions- und Handling-Zeiten. Auch die nahtlose Integration beider Umgebungen in Bezug auf Hard- und Software macht sie zur perfekten Lösung für Produktionssysteme.

Flash Programming on the Fly

Flash-Programmierung ist auch mit dem Condor Flying Probe von Digitaltest problemlos möglich. Vier bewegliche Prüfköpfe, die Flying Probes, können direkt programmiert und autonom angesteuert werden. Eine zusätzliche Adaption von unten ist nicht mehr notwendig. Dadurch werden nicht nur die Herstellungskosten der Adapter eingespart, auch die damit zwangsläufig verbundenen Bauzeiten gehören der Vergangenheit an. Der FlashRunner 2.0 von SMH Technologies eignet sich damit ideal für die Integration in Digitaltest’s Condor Flying Probe und bietet eine weitere Möglichkeit zur Qualitätsverbesserung bei gleichzeitiger Zeitersparnis.

In this webinar we will introduce you to our new inline concept that we have created together with JOT. A new affordable inline concept that not only saves space and time but also covers all different test: In-circuit test, functional test, programming etc. and this in parallel, guarantees highest flexibility and throughput.

We would like to invite you to our webinar on Thursday 28th of October 2021, introducing to our new flexible inline concept that we have created together with JOT Automation.  An affordable inline test system that not only saves spaceand time but also covers all different test: In-circuit test, functional test, programming etc. and this in parallel, guarantees highest flexibility and throughput.

Registration for Thu 28th at 10am – 11:00am CEST

Eventdatum: Donnerstag, 28. Oktober 2021 10:00 – 11:00

Eventort: Online

Um auch die eigene Testabdeckung erhöhen zu können wurde – zusätzlich zur Kontrolle der Boundary Scan-fähigen Komponente – das gleiche standardisierte Diagnoseprotokoll wie einem In-Circuit Test genutzt. Dabei wird mit der gleichen Funktion, mit der Daten an die Boundary Scan-Zelle ausgesendet- und empfangen werden, die Funktionalität des Non-Boundary Scan-Bauteils stimuliert, indem der entsprechende Eingang angesteuert und dessen Ausgangssignale erfasst werden. Dies verhält sich im Prinzip so, als ob Digitaltest seine eigenen Testtreiber und –Sensoren in die integrierten Schaltungen (ICs) eingebaut hätte.

Digitaltest griff dabei auf die aktuellen Möglichkeiten seines eigenen Testsystems zurück und steuerte die Boundary Scan-Komponenten über einfache Befehle direkt von der Benutzeroberfläche aus. Die Tests konnten durchgeführt werden, indem ein „Virtueller Pin“ zwischen einer Boundary Scan- und einer sich in unmittelbarer Umgebung befindlichen Nicht-Boundary Scan-Komponente platziert wurde.

Digitaltest konnte damit die Testabdeckung drastisch erhöhen, ohne dabei zusätzliche Kosten für externe Geräte zu verursachen. Mit diesem Konzept lassen sich auch kleinste Leiterplatten mit eingeschränktem Testzugang ganz einfach testen – auch, wenn sie dicht mit winzigen Bauteilen bestückt sind.

Designänderungen von PCBs als notwendiges „Übel“
Designänderungen von elektronischen Baugruppen, sogenannte ECO’s (Engineering Change Orders) sind notwendig, wenn abgekündigte Komponenten ersetzt werden müssen und sich dadurch die Geometrie einer Baugruppe ändert. In diesem Zuge muss der Adapter und auch das zugehörige Testprogramm manuell verändert werden. Das ist fehleranfällig, zeitintensiv, kostenaufwendig und unterbricht die Produktion. Im schlimmsten Fall ist der Adapter gar nicht modifizierbar oder es muss ein neuer Adapter mit neuem Prüfprogramm erstellt oder bestellt werden, was zu noch längeren Ausfallzeiten und Kosten führt. Wegen diesen vielen Bauteilengpässen handelt es sich auch meist nicht nur um eine elektronisch bestückte Leiterplatte, sondern um viele verschiedene mit jeweiligen Adaptern und Testprogrammen. Die Kosten hierfür steigen sehr schnell exponentiell in die Höhe!

Was ist hier die Alternative? Adapterlos Testen auf dem Flying Probe?
Das adapterlose Testen mit einem Condor Flying Probe wäre grundsätzlich eine mögliche Alternative, allerdings sind die Taktzeiten eines Nadelbett-Testsystems mit Adapter wesentlich kürzer. Gerade bei hohen Stückzahlen wäre das in einer Produktion undenkbar.

Was also kann man tun, wenn man mit ECOs Baugruppen ständig verändern muss, ohne viel Kosten in Adapter- und Testprogramm-Anpassungen zu investieren und dabei gleichzeitig die Taktzeiten so kurz wie nur möglich halten?
Mit „ECO on the Fly“ hat Digitaltest ein Verfahren entwickelt, das den Nadelbett-Test mit dem Flying Probe-Test vereint und mit dem C-LINK, die CAD/CAM Software von Digitaltest, das Delta der beiden Layout- und Stücklistenvarianten herausarbeitet. Mit den erzeugten Daten können die Adapter und Programme modifiziert- und die Platinen auf den Nadelbett-Testsystemen weiterhin getestet werden. Nur das Delta muss jetzt anschließend auf einem Condor Flying Probe noch getestet werden. Wenn es sich um Digitaltest-Testprogramme handelt, kann hier automatisch ein Prüfprogramm erstellt werden. Der Condor Flying Probe kontaktiert jetzt ausschließlich die Netze, die mit dem Nadelbett-Adapter nicht erreicht werden können. Die Testergebnisse werden dann ganz einfach per Barcode zusammengeführt, so dass die Leiterplatte oder der Nutzen eine komplette Fehleraussage bekommt.

Da C-LINK unabhängig von der Testsystem-Software anwendbar ist, kann diese Flying Probe-Station sowohl Inline als auch Stand-Alone eingerichtet- und auch für bestehende Adapter von anderen Nadelbett-Testsystemen auf dem Markt angewendet werden. Mit nur einer neuen Teststation, dem Condor Flying Probe, ist es nun möglich, alle ECOs zu bewältigen, die auf verschiedenen Baugruppen vorkommen. So kann man auch in der Zukunft flexibel und schnell auf
Obsoleszenzen, Lieferkettenprobleme und Bauteilengpässe reagieren

www.digitaltest.com

Digitaltest, einer der führenden Anbieter von elektronischen Testsystemen, setzt bei seinen Applikationen für In-Circuit Tests schon seit vielen Jahren erfolgreich auf die FlashRunner-Serie aus dem Hause SMH Technologies. Der FlashRunner 2.0 von SMH ist das Ergebnis von jahrzehntelanger Erfahrung und fortschrittlichster Technologie auf dem Gebiet der In-System Programmierung (ISP), welche es ermöglicht, bis zu 16 verschiedene Bauteile gleichzeitig programmieren zu können.

Dank seiner Flexibilität ist er dabei besonders für das Programmieren von Multi-PCB-Panels und komplexen Boards geeignet, die auf Digitaltest-Systemen völlig unabhängig voneinander programmiert und -durch die Digitaltest Lambda Edition– auch parallel voneinander getestet werden können.

Bisher wurde der FlashRunner nur beim In-Circuit Test eingesetzt, ab sofort ist die Flash Programmierung auch mit dem Condor Flying Probe von Digitaltest problemlos möglich. Dabei können vier beweglichen Testköpfe, die Flying Probes, von oben direkt programmiert und autonom angesteuert werden. Eine zusätzliche Adaption von unten ist nicht mehr notwendig. Das spart nicht nur die Kosten für die Herstellung der Adapter, auch die Konstruktionszeiten, die damit notwendigerweise verbunden sind, gehören der Vergangenheit an. Da zudem keine zusätzlichen Belastungen durch Adapter und Verdrahtung vorliegen, sind stabile Messungen garantiert.

Dem Power Programmer steht weiterhin eine umfangreiche Bibliothek zur Verfügung, was bedeutet, dass er die meisten programmierbaren Schaltkreise abdecken kann.

Der FlashRunner 2.0 von SMH Technologies eignet sich somit optimal für die Integration in den Condor Flying Probe von Digitaltest und stellt eine weitere Möglichkeit dar, um die Qualität zu verbessern und dabei gleichzeitig Zeit zu sparen.

Der Automatische DebugRobot wurde ursprünglich auf Anfrage des EMS Dienstleisters "Surface Art Engineering" entwickelt. Das Unternehmen mit Sitz in San Jose, Kalifornien, operiert als zentrale Anlaufstelle für den Markteinführungsprozess von Produkten.

Die Herausforderung für Digitaltest bestand darin, die langen Debug­ging-Zeiten bei Boards mit mehr als 500 Netzen mit der Entwicklung eines automatisierten Testprogramms zu beschleunigen, um Surface Art Engineering und seinen Kunden eine schnellere Markteinführung zu ermögli­chen.

Für ein Board mit 1.000 Netzen brauchte ein Ingenieur bisher zwei Wochen, mit dem DebugRobot können jetzt in zwei Wochen sechs Platinen gedebuggt werden! Das erspart nicht nur wertvolle Zeit, sondern hilft auch, Messungen automatisch zu stabilisieren, d.h. eine so gering wie mögliche Standardabweichung der Werte bei Messwiederholungen zu erzielen.

Mit Hilfe des DebugRobots konnte bei Surface Art Engineering aber nicht nur Zeit und Geld gespart werden, auch die Testqualität wurde maximiert. Dies alles trug dazu bei, dass sowohl Aufträge schneller bearbeitet werden konnten als auch die Zeit bis zur Markteinführung eines Produktes erheblich verkürzt wurde. Gerade bei EMS-Dienstleistern stellt dies, zusammen mit der automatischen Fehlerkorrektur, einen oft entscheidenden Faktor dar.

Der DebugRobot ist bei Digitaltest Bestandteil der aktuellen CITE 8-Software.

Der In-Circuit-Tester kann bis zu 3.456 Pins testen und ist mit einer Pneumatischen Presse ausgestattet, die auch das Testen von mechanischen Adaptern ermöglicht. Diese Adapter können ebenfalls kostengünstig von Digitaltest gebaut- und sowohl doppelseitig als auch für kleine Pads konzipiert werden. Das Anfertigen von teuren Vakuumadaptern ist somit nicht notwendig.

Das Eagle MTS 180 Testsystem und die mechanischen Adapter sind kurzfristig lieferbar. Digitaltest gibt derzeit einen speziellen COVID-19-Nachlass auf dieses System, was es besonders attraktiv macht. Für weitere Informationen kontaktieren Sie sales@digitaltest.com